• 디스크리트 장치 및 전력 모듈에 대한 넓은 대역 간격 (SiC, GaN) 전력 반도체 역학적 특성의 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정.
• 측정된 특성은 켜기, 끄기, 전환, 역복귀, 게이트 충전 등이 있습니다.
• 전원 모듈의 높은 측면 장치를 측정하기 위한 True Pulse 격리 프로브.
• 용접 없이 반복되고 신뢰할 수 있는 결과를 위한 용접 없는 접촉 기술.
• DUT와 사용자 모두에게 안전한 테스트 환경
• 커스터마이즈 가능, 확장 가능, 업그레이드 가능, 모듈형 플랫폼은 모든 전력 장치의 테스트를 가능하게 합니다.

준비된 측정 솔루션으로, PD1550A는 광범위한 반도체 전원 모듈의 신뢰할 수 있고 반복 가능한 측정 기능을 제공합니다.플랫폼은 사용자 안전과 시스템의 측정 하드웨어의 보호를 보장합니다.반복 가능하고 신뢰할 수 있는 이중 펄스 테스트 (DPT) 결과를 보장할 수 있는 능력은 키사이트가 측정 과학에 대한 80+ 년의 전문 지식을 바탕으로 만들어졌습니다.PD1500A와 함께 고객과 표준 조직과 긴밀히 협력함으로써 얻은 경험, 키사이트는 이제 WBG 전력 모듈의 동적 특성화의 과제를 극복하는 고객에게 도움을줍니다. 예를 들어 고주파 테스트 (기하르츠 범위) 의 혁신,낮은 누출량 (페모-암페어 범위), 펄스 전력 (1,500 A 전류, 10 μs 해상도). 결과적으로, 키사이트는 동적 전력 반도체 특성화의 도전을 극복하는 데 도움이 될 수 있습니다.

PD1550A에 표준 고급 측정 기법이 포함되어 있습니다. 탐사 보완, 오프셋 조정, 오프스윙 및 일반 모드 노이즈 거부와 같은 것입니다.이 기술은 혁신적인 측정 토폴로지와 레이아웃 내에서 활용됩니다.이 시스템에 대해 시스템 이득 및 오프셋 오류를 수정하는 반 자동화 캘리브레이션 루틴 (AutoCal) 이 특별히 개발되었습니다.이 시스템은 또한 현재 шун트에서 인덕티브 기생충을 보상하기 위해 de-임베딩 기술을 사용합니다.정확한 높은 측면 Vgs 측정을위한 진정한 펄스 격리 탐사 기술 및 용접없이 접촉 기술은 큰 접촉 패드를 용접 할 필요없이 반복 가능한 신뢰할 수있는 측정을 가능하게합니다..

합동 전자 장치 엔지니어링 협의회 (JEDEC) 는 마이크로 전자 산업을 위한 개방 표준 및 출판물을 개발하는 세계적 리더입니다.JEDEC 위원회는 광범위한 기술에 대한 표준 개발에 업계의 리더십을 제공합니다..

JEDEC 위원회: JC-70 광대역 간격 전력 전자 변환 반도체
JEDEC 표준은 전력 반도체 산업에 대한 WBG 표준을 제공해야 할 필요성을 인정했습니다. 2017년 9월,JC70 와이드 밴드gap 전력 전자 변환 반도체 위원회는 모두 GaN JC70을 위해 형성되었습니다.1 및 SiC JC-70.2 각 섹션에는 신뢰성 및 자격 절차, 데이터 시트 요소 및 매개 변수 및 테스트 및 특성화 방법에 초점을 맞추는 세 개의 작업 그룹이 있습니다.

키사이트는 이러한 표준 개발에 적극적으로 참여하고 있습니다.

JEDEC가 WBG 장치의 동적 테스트를 계속 정의함에 따라 몇 가지 표준화된 테스트가 나타나기 시작했습니다. Keysight PD1500A DPT는 다음과 같은 주요 성능 매개 변수를 결정합니다.

• 켜기 특성
• 켜기 특성
• 동적 전원 저항
• 동적 전류와 전압
• 전환 특성